레벨: 고급
CS(고객 만족도) 조사에 있어서 선발형 양측 인과 분석의 주목적은 「어떤 대상에 손을 쳐야 하는지를 객관적으로 밝히는 것」이다. 이 때문에 원인계 항목(서비스, 상품 특성) 중 결과계 항목(만족도 평가)에 영향이 특히 강한 것에 초점을 맞추고, 그렇지 않은 것은 분석 과정에서 적극적으로 제외한다는 중점 지향(The vital few and the trivial many.)의 접근법
그러나 선발형 양측 인과 분석이 끝난 후 CS 조사에서 취한 모든 데이터를 활용하여 CS의 부감적 인과 구조를 파악하는 것은 고도로 유용한 지견을 획득할 수 있다는 점에서 가치가 있다. 이를 위해 유용한 방법으로서 선발형 양측 인과 분석 과정에서 제외한 것을 부활한 다음 활용하여 SEM(구조 방정식 모델링)에 준한 방법을 제안한다.
결과계에 직접적인 영향을 미치지 않아도 원인계의 인자에 영향을 가지는 것(원인항목과 인자)은 전체의 인과구조를 파악하는데 있어서 가치있는 정보를 제공해 준다. 선발 형 양측 인과 분석 후 SEM에 대한 패스 다이어그램 작성의 시작은 선발 형 양측 인과 분석의 최종 결과 구조 모형도의 가공이다. 이것에 분석 과정에서 제외한 것을 순차적으로 복귀시켜 부감적 인과 구조를 단계적으로 구축한다. 이상으로부터 분명한 바와 같이, 이 방법의 본질은 선발형 양측 인과 분석으로 얻은 인과 구조를 핵으로 하고, 그 배후의 인자에 주목하여 도면을 반전시킨 반전 인과 분석이다. 그것은 SEM 자체는 아니지만 본질적으로 SEM에 준한 접근이므로 준 SEM으로 위치할 수 있다.
※이 발표에서는 동영상의 공개는 없습니다.
