使用 JMP 進行測量系統分析 (MSA) 的規劃與分析_勝村雄一 (2022-JA-50MP-25)等級：初級
在製造業中，測量工作會在各種情況下進行，包括製程控制。例如，如果測量不準確，就很難確定測量誤差是由測量系統還是過程引起的。那麼，我們該如何研究測量系統的測量精度呢？測量系統分析 (MSA) 在這種情況下非常有用。測量系統分析包括對偏差、穩定性和線性度的評估，但本次演講將重點放在量具重複性和再現性 (Gauge R&R) 分析和等效測量過程 (EMP) 分析，它們用於分析測量系統的變異性。 JMP 讓您規劃測量系統分析實驗並輸出分析結果。我們也將介紹 JMP 17 中新增的與測量系統分析相關的幾個功能和變化。
他於 2010 年加入 SAS Institute Japan Co., Ltd.。目前，他主要服務於化學工業的客戶，負責 JMP 產品的售前活動，包括 JMP 研討會和演示。
進階統計建模自動化和腳本編寫基礎資料分析與建模消費者與市場研究實驗設計預測建模和機器學習品質與工藝工程可靠度分析分享和交流成果
