使用 JMP 进行测量系统分析 (MSA) 的规划与分析_胜村雄一 (2022-JA-50MP-25)级别：初级
在制造业中，测量工作会在各种情况下进行，包括过程控制。例如，如果测量不准确，就很难判断测量误差是源于测量系统还是过程本身。那么，我们该如何评估测量系统的精度呢？测量系统分析 (MSA) 在这种情况下非常有用。测量系统分析包括对偏差、稳定性和线性度的评估，但本次演讲将重点介绍量具重复性和再现性 (Gauge R&R) 分析和等效测量过程 (EMP) 分析，它们用于分析测量系统的变异性。JMP 允许您规划测量系统分析实验并输出分析结果。我们还将介绍 JMP 17 中新增的与测量系统分析相关的几项功能和改进。
他于 2010 年加入 SAS Institute Japan Co., Ltd.。目前，他主要服务于化工行业的客户，负责 JMP 产品的售前活动，包括 JMP 研讨会和演示。
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