半導體大批量製造中的生產線控制 (2020-EU-45MP-472)Bugnon Guillaume，SOITEC 資料管理工程師
Baptist Follett，Soitec 產量工程師
Stephane Astie，SOITEC 產量經理
半導體公司在製造成本和品質方面不斷面臨挑戰。有效的良率管理系統是檢測生產線漂移並最大程度地減少廢品以降低晶圓成本和品質影響的關鍵。自 2007 年以來，JMP 透過提供易於使用的工具來視覺化設備數據與產品產量數據，幫助 Soitec 提高產量。 2010 年，產量團隊開發了用於執行一組適應響應分佈性質（正態、非常態、二元）的統計測試的方法，以找到問題的根本原因（Yield Guard 專用 JMP/JSL 應用程式） 。在多種產品和完整的晶圓廠環境中，數據品質和即時分析對於準確確定漂移根本原因至關重要。 IT 和產量團隊之間的敏捷協作使我們能夠開發自動化工具來實現這些目標，從而控制我們的生產線。我們很自豪地展示我們從數據收集到數據分析的方法。演示將透過 JMP 和 JSL 程式碼互動完成。
進階統計建模自動化和腳本編寫基礎資料分析與建模消費者與市場研究資料混合與清理數據探索和視覺化實驗設計大規模客製化預測建模和機器學習品質和工藝工程可靠度分析分享和交流成果
