Laura Lancaster, JMP Desarrolladora principal de estadística de investigación, SAS
Jianfeng Ding, desarrollador sénior de estadística de investigación, JMP
En esta era de grandes volúmenes de datos y fabricación compleja, suele haber una enorme cantidad de datos de procesos que deben supervisarse y analizarse para mantener o mejorar la calidad. JMP cuenta con varias herramientas para ayudar al analista a aumentar de forma rápida y eficiente la escala de su supervisión de procesos. La plataforma Process Screening permite a los usuarios analizar fácilmente los procesos para comprobar su estabilidad y capacidad y centrar su atención en los procesos que necesitan mejoras. La plataforma calcula inicialmente un informe resumido basado en el gráfico de control, los cálculos de capacidad y estabilidad, y crea varios gráficos para una evaluación visual rápida del estado del proceso. En función de estos resultados iniciales, es fácil seleccionar los procesos que necesitan atención y explorarlos más a fondo con acceso al generador de gráficos de control y capacidad del proceso. La plataforma de gráfico de control multivariado impulsado por modelos (MDMCC), nueva en JMP 15, permite a los usuarios monitorear grandes cantidades de procesos altamente correlacionados. Esta plataforma se puede utilizar junto con las plataformas PCA y PLS para monitorear la variación del proceso multivariado a lo largo del tiempo, brindar advertencias avanzadas sobre cambios en el proceso y sugerir causas probables de cambios en el proceso. Utilizaremos estudios de casos para demostrar cómo utilizar JMP para monitorear y analizar muchos procesos para una mejora rápida y eficiente.
