Laura Lancaster, JMP Principal Research Statistician Developer, SAS
Jianfeng Ding, leitender Forschungsstatistiker und Entwickler, JMP
Im Zeitalter von Big Data und komplexer Fertigung gibt es oft enorme Mengen an Prozessdaten, die überwacht und analysiert werden müssen, um die Qualität aufrechtzuerhalten oder zu verbessern. JMP bietet mehrere Tools, mit denen Analysten den Umfang ihrer Prozessüberwachung schnell und effizient erweitern können. Mithilfe der Plattform „Process Screening“ können Benutzer Prozesse einfach auf Stabilität und Leistungsfähigkeit prüfen und sich auf Prozesse konzentrieren, die verbessert werden müssen. Die Plattform berechnet zunächst einen zusammenfassenden Bericht auf der Grundlage von Kontrolldiagramm-, Leistungsfähigkeits- und Stabilitätsberechnungen und erstellt mehrere Diagramme zur schnellen visuellen Beurteilung des Prozesszustands. Auf der Grundlage dieser ersten Ergebnisse können Sie ganz einfach die Prozesse auswählen, die Ihrer Aufmerksamkeit bedürfen, und sie mithilfe des Zugriffs auf „Control Chart Builder“ und „Process Capability“ eingehender untersuchen. Mit der in JMP 15 neuen Plattform Model Driven Multivariate Control Chart (MDMCC) können Benutzer große Mengen stark korrelierter Prozesse überwachen. Diese Plattform kann in Verbindung mit den PCA- und PLS-Plattformen verwendet werden, um multivariate Prozessvariationen im Zeitverlauf zu überwachen, frühzeitig vor Prozessverschiebungen zu warnen und wahrscheinliche Ursachen für Prozessänderungen vorzuschlagen. Wir zeigen anhand von Fallstudien, wie Sie mit JMP zahlreiche Prozesse überwachen und analysieren können, um schnelle und effiziente Verbesserungen zu erzielen.
