Il processo di test genera la maggior parte dei dati nell'azienda, ma esistevano limitazioni nell'utilizzo dei dati a causa della mancanza di strumenti in grado di gestirli senza problemi. In particolare, i dati generati dal processo di test dei wafer riflettono il livello di qualità della fabbrica, ma sono stati utilizzati solo parzialmente dagli ingegneri. Per contribuire a migliorare la resa/qualità aumentando l'utilizzo dei dati di test, abbiamo sviluppato un componente aggiuntivo CTQ Define di facile utilizzo che deriva il CTQ del test del wafer applicando l'algoritmo ML supportato da JMP. In questa presentazione, introdurremo una serie di processi di analisi che definiscono il CTQ per ciascun target in base al componente aggiuntivo e ricavano condizioni di coefficiente ottimali per l'applicazione sul campo per gli elementi CTQ.
