UNISOC: 先進的な半導体製造システムのためのエンジニアリングデータ分析プラットフォームに関する予備調査Liu Zhinong 博士は、2000 年以来 DOE 技術を使用して、SiGe 材料の膜の均一性と結晶成長の品質を体系的に改善してきました。2005 年からは、ビッグデータ解析、高度なプロセスの歩留まり向上、故障率の低減の責任者として働いています。一流のチップ企業で、戦略に基づいた効率的で堅牢な先進的な半導体製造システムの構築に重点を置いています。この講演の中で、Liu博士は、製品エンジニアリング、品質エンジニアリング、パッケージング設計エンジニアリング、テストエンジニアリングのデータ分析効率を向上させ、製品の中核となる競争力を着実に強化するための、ファブレスビッグデータプラットフォームとエンジニアリングデータプラットフォーム構築の先進的な概念を共有しました。
この講演の中で、Liu博士は、製品エンジニアリング、品質エンジニアリング、パッケージング設計エンジニアリング、テストエンジニアリングのデータ分析効率を向上させ、製品の中核競争力を着実に強化するためのファブレスビッグデータプラットフォームとエンジニアリングデータプラットフォーム構築の先進的な概念を共有しました。
