UNISOC: Eine vorläufige Studie zur technischen Datenanalyseplattform für fortschrittliche HalbleiterfertigungssystemeDr. Liu Zhinong nutzt die DOE-Technologie seit 2000, um die Filmgleichmäßigkeit und die Kristallwachstumsqualität von SiGe-Materialien systematisch zu verbessern. Seit 2005 ist er als Verantwortlicher für Big-Data-Analyse, erweiterte Prozessausbeuteverbesserung und Fehlerratenreduzierung tätig in Top-Chip-Unternehmen, die sich auf den Aufbau eines effizienten und robusten, fortschrittlichen Halbleiterfertigungssystems auf der Grundlage einer Strategie konzentrieren. In dieser Rede stellte Dr. Liu die fortschrittlichen Konzepte der Fabless-Big-Data-Plattform und des Aufbaus einer Engineering-Datenplattform vor, um die Datenanalyseeffizienz der Produktentwicklung, Qualitätstechnik, Verpackungsdesign-Technik und Testtechnik zu verbessern und die Kernwettbewerbsfähigkeit von Produkten stetig zu verbessern.
In dieser Rede stellte Dr. Liu die fortschrittlichen Konzepte der Big-Data-Plattform Fabless und des Aufbaus einer Engineering-Datenplattform vor, um die Datenanalyseeffizienz der Produktentwicklung, Qualitätstechnik, Verpackungsdesigntechnik und Testtechnik zu verbessern und die Kernwettbewerbsfähigkeit von Produkten stetig zu verbessern.
