Evidenzia sulla mappa del waferCIAO,
Esiste un modo per selezionare la regione sulla mappa wafer a forma di cuneo (regione gialla nello snippet) attraverso il 4° quadrante del cerchio tra le ore 4 e le ore 5?
So che è possibile effettuare la selezione con lazo, ma mi chiedevo se è possibile effettuare una selezione più simmetrica utilizzando una formula o il metodo JSL?

Grazie,
Automazione e scriptingRe: Evidenzia sulla mappa waferCerto. Potresti creare una formula per quelle sezioni e usare il filtro dati con "select" abilitato su quella colonna formula per eseguire le selezioni.
Re: Evidenzia sulla mappa wafer@jthi Stavo pensando la stessa cosa ma non sono sicuro di come ricavare la formula
Re: Evidenzia sulla mappa waferNeanch'io perché non so cosa desideri selezionare. Sembra che ci sia un angolo, un cerchio interno, un po' di larghezza e forse una strana forma all'interno dell'area rossa (potrebbe essere che non sia tutto colorato).
Re: Evidenzia sulla mappa wafer@jthi Sto pensando di creare una forma a cuneo con dimensioni X = 8 matrici e Y = 16 matrici tra le 4 e le 5 con un angolo di 45 gradi
Re: Evidenzia sulla mappa waferVuoi una forma a cuneo o rettangolare? Potresti disegnarla correttamente e segnare le "misure" che hai?
Re: Evidenzia sulla mappa waferEntrambi vanno bene. Ho evidenziato approssimativamente la regione. La dimensione del dado non ha importanza, purché la forma sia un rettangolo.
Re: Evidenzia sulla mappa waferLa soluzione potrebbe essere più semplice in coordinate polari. Crea due nuove colonne di dati con il raggio e l'angolo per ogni punto dati. Traccia i dati usando le nuove coordinate e verifica se le righe target sono più facili da identificare con un limite inferiore e superiore sul raggio e sull'angolo. Puoi provare interattivamente diversi criteri di selezione usando un filtro dati. Le righe selezionate definirebbero i target nelle coordinate cartesiane originali della mappa wafer.
Re: Evidenzia sulla mappa waferPotresti aggiungere pulsanti di selezione rapida al grafico, come in questo post:
https://community.jmp.com/t5/Discussions/How-to-use-multiple-columns-with-shape/mp/745037/highlight/true#M92483
Basta definire una formula per il segmento e utilizzare 0/1 per aggiungere punti dati come controlli all'esterno della wafermap.
Re: Evidenzia sulla mappa waferStavo per postare questo. Questa è probabilmente la soluzione migliore per questo problema.
È possibile utilizzare le coordinate Die (x,y) per calcolare le colonne della formula del raggio e dell'angolo e filtrare i dati su tali colonne.
Re: Evidenzia sulla mappa waferSvantaggio del filtro dati (quello Locale): la selezione è disabilitata.
Ecco un desiderio per rendere disponibile questa modalità:
https://community.jmp.com/t5/JMP-Wish-List/Local-Data-Filter-don-t-disable-the-SELECT-option/idi-p/581826
Re: Evidenzia sulla mappa waferHo sbagliato un po' con il rettangolo (la tua forma non è rettangolare), quindi non si sovrappone bene (ho anche indovinato i punti d'angolo).

Quindi ho trovato un'altra funzione e l'ho modificata per JMP. È più vicina ma usa ancora punti d'angolo hard-coded


Re: Evidenzia sulla mappa wafer@jthi Sembra buono Jarmo. Puoi condividere la tabella con la formula?
Re: Evidenzia sulla mappa waferGrazie mille per i tuoi suggerimenti!
Re: Evidenzia sulla mappa waferTabella allegata.