在JMP中進行過程能力分析時,有「過程篩選」和「過程能力」平台,但最簡單的方法是使用「單變量分佈」平台中的「過程能力」選項。
如果您在 JMP 樣本資料「Pickles.jmp」的連續刻度列「酸度」的「單變量分佈」中設定規格限(下限 = 8,上限 = 17)並執行製程能力分析,則會產生下列報告。展示。

報告包含以下項目:「直方圖」、「流程摘要」、「群組內 Sigma 製程能力」、「整體 Sigma 製程能力」和「不合格率」。非常重要。
你可能認為目的只是為了計算Cpk和Ppk等過程能力指數,看報告的相關部分就可以了,但了解這些指標是如何計算的也很重要。
因此,在這篇部落格中,我們將解釋如何閱讀上面所示的「單變量分佈」的過程能力分析報告。,詳細解釋如何計算顯示的統計資料。您也可以下載顯示計算公式的腳本 (Calculate_Capability.jsl)。
注意
- 在所呈現的範例中,指定了規格下限 (LSL) 和規格上限 (USL),而沒有設定目標值。
- 計算過程能力指數的信心區間比較複雜,這裡不再解釋。
- 雖然可以透過指定子組列進行能力分析,但這裡不提供此範例。
- 此處解釋的報告假設過程分佈呈常態分佈。雖然 JMP 可以對常態分佈以外的分佈進行過程能力分析,但我們在此不做解釋。
流程摘要:什麼是組內西格瑪和整體西格瑪?

Y 中指定的「酸性」列的直方圖將與指定的規格限值線(紅色實線)一起顯示。透過此圖,您可以直觀地看到有多少資料低於 LSL 以及有多少資料高於 USL。
組內 sigma :短期內計算的變異估計(使用控製圖上的 σ)
總體西格瑪:隨時間計算的離散度估計值(使用從數據或整體中找到的標準差)
我們建議使用製程能力分析,透過控製圖等檢查目標過程是否穩定。如果製程穩定,組內 sigma 和整體 sigma 值將大致相等,但如果製程不穩定,這些值就會發散。
直方圖顯示以樣本平均值和組內 sigma 作為參數的常態分佈曲線(藍色),以及以樣本平均值和總體 sigma 作為參數的常態分佈曲線(黑色虛線)。比較兩條曲線,組內曲線似乎是過程中更好的分佈。
如果過程可以被認為是穩定的,那麼考慮整體西格瑪值是一個好主意。如果製程不穩定,則整體西格瑪值將不可靠。在這種情況下,最好考慮組內 sigma 的值。
相反,您可以透過比較整體 sigma 值和組內 sigma 值來確定製程是否穩定。此指標是由下式定義的穩定性指標。
穩定性指數:整體 sigma ÷ 組內 sigma
如果製程穩定,穩定性指數將取接近 1 的值,因為組內 sigma 和整體 sigma 值大致相等,如上所述。值越高表示過程越不穩定。本例的穩定性指數為1.446,較大,因此可以說製程不穩定。
*許多流程可以使用流程篩選平台中的流程效能圖進行比較,該平台使用的穩定性指數閾值為 1.25。如果大於1.25,則認為製程不穩定。
計算方法
組內西格瑪是根據平均移動範圍計算的。移動極差是當前值減去前一個值得到的絕對值。我們將計算對應於R 控製圖的sigma,|第2 行值- 第1 行值|,|第3 行值- 第2 行值| ... |第N 個值- 計算第(N-1)個值並取 |他們的總和。將該總和除以稱為 d2(2) 的常數。 d2(2)是子組為2時d2的值(移動範圍的情況下,從目前值到上一個值的區域被視為一個子組)。此常數也用於計算控製圖上的 sigma,其值為 1.128。然後將該值除以子組的數量(在本例中,資料點的數量為 24,因此子組的數量為資料點的數量減 1,即 23)。
組內 sigma = (移動範圍總和 / d2(2) ) / 23 = 1.160
總體西格瑪是根據數據計算出的標準差來計算的。您可以確認它與“匯總統計”的標準差值相符。

工程能力指數

如 JMP 手冊中所述,組內 sigma 的製程能力指數使用以下公式計算。

在此方程式中,μ 由樣本平均值估計,σ 由短期西格瑪估計。估計的過程能力指數是使用上述過程摘要報告中顯示的值計算的,如下所示:
CP = (17 -8)8)/ (6 * 1.1598) = 1.293
Cpl = (10.5667 -8)8)/ (3 * 1.1598) = 0.738
中央處理器 = (17 - 10.5667) /(3 * 1.1598) = 1.849
Cpk = 最小值(0.738, 1.849) = 0.738
對於總體西格瑪過程能力指數,上式中的σ是透過總體西格瑪來估計的。
Pp = (17 -8)8)/ (6 * 1.6766) = 0.895
Ppl = (10.5667 -8)8)/ (3 * 1.6766) = 0.510
PPU = (17 - 10.5667) /(3 * 1.6766) = 1.279
Ppk = 最小值(0510, 1.279) = 0.510
在此範例中,Cpk 為 0.738,Ppk 較低,為 0.510。
不適合率

觀察百分比:超出規格限值的資料百分比。
在此範例中,LSL 以下有一個資料項,USL 以上沒有數據,因此將這些值除以資料項數 (24)。
小於 LSL = (1 / 24 )* 100 = 4.1667
超過 USL = (0/ 24 )* 100 = 0
組內 σ % 和總體 σ % 表示直方圖中顯示的常態分佈曲線小於 LSL 的機率和超過 USL 的機率。

組內百分比:使用組內 sigma 的常態分佈密度曲線的規格限之外的面積(機率)
常態分佈的累積分佈函數 可以使用常態分佈(q, mu, sigma) 函數透過以下公式計算。
小於 LSL = 常態分佈(LSL,樣本平均值,組內 sigma)* 100 = 1.3448
超出 USL = (1- 常態分佈(USL,樣本平均值,組內 sigma)) * 100 = 0.0000
總計 %:使用總西格瑪的常態分佈密度曲線超出規格限值(機率)的面積
小於 LSL = 常態分佈(LSL、樣本平均值、總體西格瑪)* 100 = 6.2901
超出 USL = (1- 常態分佈(USL、樣本平均值、整體 sigma)) * 100 = 0.0062
如何提高製程能力
如上所述,對於此範例過程,Cpk為0.738,Ppk為0.510,因此可以說製程能力較低。那麼,如何改善流程來提升流程能力呢? JMP 提供了一個選項來為此問題提供數字提示。
從「能力分析」報告左側的紅色小三角中選擇「互動式能力圖」選項。這將添加如下報告:此圖描繪了目前資料的(樣本)平均值、以整體 sigma 作為參數的常態分佈、LSL 和 USL 線。這顯示了當前的過程能力。

那麼,如果我們能夠改善流程,將平均值調整到比現在更大的數值,並減少現在的偏差,我們能夠將流程能力提高多少? 您可以透過移動「新工藝能力」滑桿來檢查這一點。例如,以下是平均值為 12.5、整體 sigma(變異數)為 1.1 時的報告。

這將 Ppk 提高到 1.364,超過了常用的指導值 1.33。
雖然這只是假設情況的模擬,但我認為了解未來流程改進的近似值會很有用。
下面的影片介紹了使用「過程能力」和「過程篩選」平台進行過程能力分析,其中包括本次介紹的「單變量分佈」過程能力分析。
使用 JMP 進行製程能力分析(日文)
by 増川直裕(JMP Japan)
Naohiro Masukawa - JMP 使用者社區