「공정 능력」이란, 안정 상태에 있는 공정의 변동을 사양 한계를 기준으로 본 것입니다. 「 공정 능력 분석 」은 공정의 중심과 편차를 사양 한계에 비추어 요약한 지표이며, 공정이 사양 한계 내에 얼마나 머무르고 있는지를 조사할 수 있습니다.
JMP에서는 공정 능력 지수(Cp, Cpk, Pp, Ppk 등)를 산출하는 기능은 물론, 지수와 함께 관련된 다양한 그래프를 표시할 수 있으므로, 복수의 공정에 대한 공정 능력 분석을 탐색적이고 효율적으로 실시한다 수 있습니다.
본 동영상에서는, JMP로 공정 능력 분석을 실시하는 기본 사항을 나타내, 골 플롯이나 공정 성능 그래프 등, JMP로 복수의 공정을 비교 검토할 때에 도움이 되는 그래프와 그 이용 방법을 소개합니다.
JMP로 공정 능력 분석을 할 수 있는 플랫폼(적색 테두리)
본 동영상의 조작은, JMP의 샘플 데이터로 시험할 수 있습니다.
샘플 데이터는 JMP 메뉴 바에서 도움말 > 샘플 인덱스 를 선택하고 샘플 데이터 이름을 검색하여 검색할 수 있습니다.
※본 동영상은 동영상 작성 시점의 최신 버전(JMP 18.0.1)을 이용하고 있습니다.
목차
Part 1. JMP에서 공정 능력 분석을 실시하기 위한 기본 조작
Section 1. 「일변량의 분포」를 이용한 공정 능력 분석(17분 59초)
- 실시예 1-1. 「일변량의 분포」를 이용한 공정 능력 분석에 대해서
- 표시되는 공정 능력 지수의 설명(군내 시그마, 전체 시그마, 부적합률 등)
Section 2. 정규 분포를 따르지 않는 데이터의 공정 능력 분석(6분 18초)
- 예 1-2. 정규 분포에 따르지 않는 데이터의 공정 능력 분석(대수 정규 분포를 맞추고 공정 능력 지수를 계산)
Part 2. 여러 공정 변수가 있을 때 효과적인 공정 능력 분석
Section 1. 「공정 능력」플랫폼의 이용(14분 50초)
- 「공정 능력」플랫폼의 특징
- 공정 능력 분석에 특화된 플랫폼
- 최적의 분포를 적용하고 그 분포를 따를 때의 공정 능력 지수를 산출
- 여러 프로세스를 한 번에 분석할 때 유용한 그래프(골 플롯, 공정 능력 상자 수염 다이어그램 등) 만들기
- 예 2-1. 정규 분포에 따른 여러 단계에 대한 분석
- 실시예 2-2. 각 공정에 최상의 분포를 맞추어 공정 능력 분석을 실시
Section 2. 서브그룹을 이용하여 공정 능력 지수 산출(8분 58초)
- 예 2-3. 하위 그룹을 사용하여 공정 능력 지수 계산
- 안정 지수에 대하여
Section 3. 공정 스크리닝 플랫폼 이용(9분 25초)
- "공정 스크리닝"플랫폼의 특징
- 다수의 공정 데이터를 탐색적으로 조사하는 플랫폼
- 각 공정의 결과를 정리한 요약표를 표시
- 요약표에서 조사하고 싶은 공정에 대해서, 인터랙티브한 조작으로 상세하게 조사할 수 있다
- 사용되는 공정 변수는 정규 분포를 따른다고 가정한다.
- 예 2-4. 수많은 공정 데이터 스크리닝
