是什麼激發了這個願望清單請求？
許多 JMP 客戶處理測試資料（通過/失敗），並經常比較不同類別變數的失敗率（或產量）（例如，產品 A 與產品 B 的失敗率在統計上是否有差異）。他們希望以直觀的方式方便地視覺化這些失敗率和置信區間。目前，這不能透過 Fit Y by X 或圖形產生器來完成，只能在分佈中完成。但分佈並非旨在用於比較響應與因子，因此它既不直觀也不方便。
（參考SE社群的這篇文章）
請描述您希望看到的新的或改進的功能或解決方案。
改進的功能將是意外事件和圖形產生器中的選項，包括二項式回應的置信區間並執行 p 值計算以確定不同群組是否具有統計上不同的失敗率。新功能看起來類似於右圖，而左圖顯示了 Graph Builder 目前可以執行的操作，這在技術上對於二項式響應來說是不正確的：
如果提供此新功能，對您和/或其他使用者有何價值？
分析測試資料（其中許多）的工程師將能夠使用 JMP 創建直觀的視覺效果，比較故障率和產品統計測試，以確定分類等級之間的顯著性。
這是外部客戶的請求嗎？
是的，許多公司都要求此功能，包括但不限於 Meta、Nvidia、Tesla、Rivian、Intel、AMD、Apple。
是否有具有我們應該注意的此功能或解決方案的競爭軟體包？
Exensio (DataPower)、Optimal+、Yield Explorer 等競爭軟體具有跨二項式回應進行統計測試的功能
這是否會影響客戶的續約、擴展或採用？
可能不會，但這項功能的需求量很大，它使 JMP 更直觀、更易於使用。
