RSM 및 CCD 설계에서 실행 시 음수 값을 방지하기 위해 상한 및 하한 요인 값을 사용하는 대신 알파 기준으로 요인 범위를 입력할 수 있습니까?
안녕하세요 @Nimaxim 님 ,
상위 및 하위 요소 값을 사용하는 대신 알파 사용과 관련하여 무엇을 의미하는지 잘 모르겠습니다.
명확히 하기 위해 두 가지 고전적인 반응 표면 모델 디자인을 사용할 수 있습니다.
- 중앙 합성 설계는 요인 설계를 강화하는 마지막 단계로 자주 사용됩니다. 이 연구에는 일반적으로 다양한 주효과를 선별하는 작업이 포함되며(예를 들어 어떤 요인이 더 나은 해결을 가능하게 하는지 파악하기 위해) 확인되면 다음을 포함하도록 설계가 강화됩니다. 프로세스를 완전히 최적화하고 최상의 분석 설정을 찾기 위해 2가지 요소 상호 작용 및 2차 효과를 통해 CCD가 생성됩니다. 최적의 영역이 실험 공간의 중심에 있을 것으로 예상되는 경우 CCD가 좋은 설계 옵션일 수 있습니다.
- Box-Benhken 설계는 2차 거듭제곱에 더 많은 검정력을 사용할 수 있기 때문에 최고의 "정밀도"를 갖는 설계 중 하나로 문헌에서 사용되며, 이 설계는 종종 실험 공간에서 균일한 정밀도를 가지며 종종 CCD. Box-Benhken에 대한 추가 정보: 개방형 교육자 - 4. Box-Behnken 반응 표면 방법론
실험 공간의 가장자리에 최적의 위치가 있을 것으로 예상한다면 BB가 좋은 설계 옵션이 될 수 있습니다. 또한 이 설계에서는 요인 값이 -1 미만이거나 +1보다 높지 않으므로 요인에 대해 물리적으로 실현 가능한 값 -1 및 +1을 설정한 경우 Box Behnken 설계를 항상 실행할 수 있습니다. CCD와 달리 실험 공간의 구석에 점이 없습니다.
중앙 복합 설계에는 알파 값에 따라 세 가지 주요 유형의 설계가 있습니다.
- 외접(>1),
- 면 중심(=1)
- 각인됨 (<1)
여러 CCD(외접, 면 중심, 내접)에 대한 추가 정보:
5.3.3.6.1. 중앙 복합 설계(CCD)(nist.gov)
5.3.3.6.3. 반응 표면 설계 비교(nist.gov)
-1과 +1로 코딩된 요인 값이 있는 JMP(DoE, Classical, Response Surface 플랫폼)의 여러 옵션이 포함된 스크린샷을 참조하세요.
"Inscribe" 확인란 옵션 또는 "On Face" 디자인 옵션만 요인의 경계 값(-1/+1)과 같거나 덜 극단적인 값을 가진 별점을 생성합니다.
실행 시 음수 값을 방지하려면 외접 CCD를 피하고 면 중심 또는 내접 CCD 유형을 목표로 해야 합니다. 비슷한 주제에 대해 나는 별점이 실험 공간의 중심에서 가장 멀리 떨어져 있음을 보여주었습니다 .
- 주효과와 2차 효과에 대한 검정력은 높지만 절편에 대한 검정력은 낮을수록
- 실험 공간 중앙에서는 분산이 높을수록 실험 공간 경계에서는 분산이 낮아집니다.
자세한 내용은 여기에서 확인할 수 있습니다: https://community.jmp.com/t5/Discussions/why-are-no-star-points-in-custom-design-RSM/mp/603144/high...
별점 값 선택은 실행의 물리적 타당성(인자 범위를 -1 이하 또는 +1 코딩 값 이상으로 확장할 수 있음)과 CCD 이면의 목표 간의 절충안입니다.
아마도 이 웹 세미나는 RSM 설계(클래식 반응 표면 플랫폼 또는 맞춤형 설계 플랫폼을 사용한 CCD)를 설정하는 데 도움이 될 수 있습니다. 중앙 복합 설계 설계
이 답변이 도움이 되길 바라며,
