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Wie erhält man die Prozessparameterausbeute pro Wafer in einer Charge?

Ich möchte den Prozessparameterertrag pro „Wafer-ID in Lot-ID“ aus der Beispieldatentabelle „Semiconductor Capability.jmp“ abrufen.

However, I am not able to proceed as I am getting an error: "Process Screening requires at least 7 rows of data."

Names Default To Here (1);
clear log ();
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

col_names = dt << Get Column Group("Processes"); 
ps = dt << Process Screening (Process Variables( Eval( col_names )),  
                  Spec Limits Dialog( "No (skip columns with no spec limits)" ), 
                  Control Chart Type ("Indiv and MR"),
                  By( :wafer );// Just to demonstrate	
                  //By (:"Wafer ID in lot ID");I need this but this throws error in JMP 16.2.0 (Error: Process Screening requires at least 7 rows of data.). Why?
                  );

Was mache ich falsch?

Sobald das obige Skript für „Nach: Wafer-ID in Los-ID“ funktioniert, möchte ich eine Datentabelle (Zusammenfassung?) in der Form erhalten

Spalte 1: Wafer-ID in Lot-ID

Spalte 2: Prozessnamen

Spalte 3:

Prozessparameter-Ausbeute = 100*Anzahl der bestandenen Stellen (pro Parameter, den das obige Skript angibt, glaube ich (5 - „Anzahl außerhalb der Spezifikation“))/Anzahl der gemessenen Stellen pro „Wafer-ID in Chargen-ID“

(in diesem Beispieldatenfall wurden 5 Stellen pro Wafer gemessen)

Wie funktioniert dies über JSL?

Automatisierung und SkriptingWindowsBetreff: Wie erhält man die Prozessparameterausbeute pro Wafer in einer Charge?

Haben Sie versucht, „Group“ statt „By“ für die Gruppierungsspalte zu verwenden?

Betreff: Wie erhält man die Prozessparameterausbeute pro Wafer in einer Charge?

@jthi , ja, ich habe versucht, nach „ Wafer-ID in Lot-ID“ zu gruppieren, wodurch ich eine Tabelle mit den erforderlichen Daten erhalte, aber ich konnte daraus nicht den gewünschten Parameterertrag extrahieren. Ich denke darüber nach, die Summarize-Funktion zu verwenden, bin mir aber noch nicht sicher, wie ich sie verwenden soll. Jede Hilfe wäre sehr hilfreich.

Betreff: Wie erhält man die Prozessparameterausbeute pro Wafer in einer Charge?

Ich bin nicht sicher, wofür Sie die Zusammenfassung verwenden möchten. Sie können eine Tabelle wie diese ganz einfach von Process Screening abrufen. Dann fügen Sie einfach eine Formel hinzu und schon sollten Sie das bekommen, was Sie brauchen (oder vielleicht übersehe ich etwas).

Betreff: Wie erhält man die Prozessparameterausbeute pro Wafer in einer Charge?

Da dies als gelöst markiert wurde, werde ich auch zumindest eine Art endgültige Lösung anbieten

Names Default To Here(1);
dt = Open("$SAMPLE_DATA/Semiconductor Capability.jmp");

ps = dt << Process Screening(
	Process Variables(Column Group("Processes")),
	Grouping(:Wafer ID in lot ID),
	Control Chart Type("Indiv and MR"),
	Within Sigma(0),
	Overall Sigma(0),
	Stability Index(0),
	Mean(0),
	Show Tests(0),
	Test 1(0),
	Out of Spec Rate(0),
	Latest Out of Spec(0),
	Cpk(0),
	Ppk(0)
);

dt_result = Report(ps)[Outline Box("Process Screening"), Table Box(1)] << Make Into Data Table;
ps << close window;
wait(0);

new_col = dt_result << New Column("Yield", Numeric, Continuous, Format("Percent", 12, 3), Formula(
	(:Count - :"Out of Spec Count"n) / :Count)
);
dt_result << run formulas;
new_col << delete formula;