多層玻璃基板堆疊的形貌氣隙分析使用 JMP 軟體創建了堆疊玻璃基板之間氣隙測量的詳細視覺化結果。這種視覺化是透過使用低相干干涉測量法的細緻測量過程產生的，該測量過程無需接觸基材即可準確測量間隙。透過將這些測量結果繪製在 XY 圖上（使用分位數分組），JMP 提供了基板表面氣隙變化的清晰空間表示。
JMP 中產生的表面圖透過顯示基材表面的形貌視圖進一步增強了理解。這種視覺化至關重要，因為它突出顯示了堆疊中心的明顯弓形，這種缺陷會導致黏合應力以及隨後沿著生產線進一步分層。
利用 JMP 的分析工具，我們進行了根本原因分析。軟體的視覺輸出精確定位了中央弓，從而能夠及時採取糾正措施。此過程展示了 JMP 將複雜數據轉化為可行見解的能力，確保堆疊玻璃基板的製造完整性。本演示還演示了 JMP 的新工作流程插件如何使非面向腳本的使用者能夠展示獨立於任何腳本知識的資料。
自動化和腳本編寫數據探索和視覺化
