因此，讓我們大聲說出安靜的部分：如果您對此嚴格要求，那麼來自資料庫的半導體製造資料不應該出現在典型的控製圖上。出於很多很多的原因。但不要害怕！有一個解決方案。與 Mike Anderson 一起演練一個案例研究，展示將標準控製圖與半導體資料結合使用的缺陷，以及如何使用 JMP 18 中引入的新短期控制來解決這些缺陷。
