Sagen wir also den leisen Teil laut: Wenn Sie es genau nehmen, sollten die aus den Datenbanken kommenden Daten zur Halbleiterherstellung nicht in typischen Kontrollkarten enthalten sein. Aus vielen, vielen Gründen. Aber keine Angst! Es gibt eine Lösung. Begleiten Sie Mike Anderson bei einer Fallstudie, die die Fallstricke bei der Verwendung von Standardkontrollkarten mit Halbleiterdaten zeigt und wie man sie mit der neuen kurzfristigen Kontrolle, die in JMP 18 eingeführt wurde, behebt.
