ゲージのスループットを向上: カスタム DOE とゲージ R&R を組み合わせる測定のばらつきを低く抑えながら、生産需要に合わせてゲージのスループットを向上させることは困難な場合があります。多くの場合、スループットと測定のばらつきは競合する変数であり、実験計画法 (DOE) を使用せずにそれらの関係を理解することは困難です。
このケーススタディでは、JMP のカスタム DOE プラットフォームを測定システム分析 (ゲージの繰り返し性と再現性) と組み合わせることで、ゲージの精度と正確さを維持しながらスループットを向上させる方法を示します。JMP の DOE プラットフォームを利用することで、一度に 1 つの変数を使用するアプローチと比較して、開発時間が約 50% 短縮されました。ゲージの物理的な制約と、これらの制約がカスタム DOE に追加される方法を示します。次に、設計空間の最適化やゲージ スループットの 60% 増加の実験的検証など、DOE 結果をモデル化します。
実験計画法品質およびプロセスエンジニアリング
