Migliorare la produttività del misuratore per la domanda di produzione mantenendo una variazione di misura bassa può essere difficile. Spesso, la produttività e la variazione della misurazione sono variabili in competizione e comprendere la relazione tra loro può essere difficile senza utilizzare un disegno di esperimento (DOE).
In questo caso di studio, mostriamo come la piattaforma DOE personalizzata di JMP può essere abbinata all'analisi dei sistemi di misurazione (ripetibilità e riproducibilità del misuratore) per aumentare la produttività mantenendo l'accuratezza e la precisione del misuratore. Utilizzando la piattaforma DOE di JMP, il tempo di sviluppo è stato ridotto di circa il 50% rispetto a un approccio basato su una variabile alla volta. Dimostriamo i vincoli fisici del misuratore e come questi vincoli vengono aggiunti al DOE personalizzato. Quindi modelliamo i risultati del DOE, inclusa l'ottimizzazione dello spazio di progettazione e la convalida sperimentale dell'aumento del 60% della produttività del misuratore.
