Améliorer le débit des jauges pour répondre à la demande de production tout en maintenant une faible variation de mesure peut s'avérer difficile. Souvent, le débit et la variation des mesures sont des variables concurrentes et il peut être difficile de comprendre la relation entre elles sans utiliser un plan d'expérience (DOE).
Dans cette étude de cas, nous montrons comment la plateforme Custom DOE de JMP peut être couplée à une analyse de systèmes de mesure (répétabilité et reproductibilité de la jauge) pour augmenter le débit tout en maintenant l'exactitude et la précision de la jauge. Grâce à la plateforme DOE de JMP, le temps de développement a été réduit d'environ 50 % par rapport à une approche variable à la fois. Nous démontrons les contraintes physiques de la jauge et comment ces contraintes sont ajoutées dans le DOE personnalisé. Nous modélisons ensuite les résultats du DOE, notamment en optimisant l'espace de conception et en validant expérimentalement l'augmentation de 60 % du débit de la jauge.
