게이지 처리량 향상: 맞춤형 DOE와 게이지 R&R 결합낮은 측정 변동을 유지하면서 생산 요구에 맞게 게이지 처리량을 개선하는 것은 어려울 수 있습니다. 종종 처리량과 측정 변동은 경쟁 변수이며 실험 설계(DOE)를 활용하지 않으면 이들 사이의 관계를 이해하는 것이 어려울 수 있습니다.
이 사례 연구에서는 JMP의 맞춤형 DOE 플랫폼을 측정 시스템 분석(게이지 반복성 및 재현성)과 결합하여 게이지의 정확성과 정밀도를 유지하면서 처리량을 높이는 방법을 보여줍니다. JMP의 DOE 플랫폼을 활용하여 한 번에 하나의 변수를 사용하는 접근 방식에 비해 개발 시간이 약 50% 단축되었습니다. 게이지의 물리적 제약과 이러한 제약이 사용자 정의 DOE에 추가되는 방법을 보여줍니다. 그런 다음 설계 공간 최적화 및 게이지 처리량 60% 증가를 실험적으로 검증하는 등 DOE 결과를 모델링합니다.
실험 설계품질 및 프로세스 엔지니어링