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雙倍快樂，雙倍樂趣！兩種故障模式下的可靠性

生活讓你沮喪嗎？您是否有兩種故障模式且不確定如何進行可靠性預測？有一條成功之路！使用簡單的方法，在 JMP 中對具有兩個獨立的對數正態故障機制的電晶體壽命的阿倫尼烏斯資料集進行建模。也估計了使用條件下失效機率的置信上限。

但未來的測試呢？您可能需要在下一次資格認證中測試類似的零件。當存在不只一種故障模式時，您應該如何設計壽命測試？再說一遍，有一個解決方案！展示了一種用於規劃具有兩個獨立的對數正態失效機制的壽命測試的圖形方法。輪廓刻畫器顯示模擬雙峰資料的可靠性估計，幫助您解決這個難題。這種簡單的圖形方法允許從業者選擇最有可能滿足所需可靠性目標的測試條件。