¿La vida te deprimió? ¿Tiene dos modos de falla y no está seguro de cómo hacer predicciones de confiabilidad? ¡Existe un camino hacia el éxito! Utilizando un método sencillo, se modela en JMP un conjunto de datos de Arrhenius sobre la vida útil de los transistores con dos mecanismos de falla lognormales e independientes. También se estima el límite superior de confianza de la probabilidad de falla en las condiciones de uso.
Pero ¿qué pasa con las pruebas futuras? Es posible que tengas que probar piezas similares en la próxima calificación. ¿Cómo debería diseñar sus pruebas de vida cuando hay más de un modo de falla? Una vez más, ¡hay una solución! Se demuestra un método gráfico para planificar pruebas de vida con dos mecanismos de falla lognormales e independientes. Las estimaciones de confiabilidad a partir de datos bimodales simulados se muestran con el perfilador de contorno, lo que le ayudará a superar esta dificultad. Este enfoque gráfico simple permite al profesional elegir las condiciones de prueba que tienen la mejor probabilidad de alcanzar el objetivo de confiabilidad deseado.
