즐거움이 두배, 재미가 두배! 두 가지 실패 모드에서의 신뢰성인생이 당신을 실망시켰나요? 두 가지 실패 모드가 있는데 신뢰성 예측 방법을 모르시나요? 성공으로 가는 길은 있다! 간단한 방법을 사용하여 두 개의 독립적인 로그 정규 오류 메커니즘을 갖춘 트랜지스터 수명의 Arrhenius 데이터 세트가 JMP에서 모델링됩니다. 사용 조건에서 고장 확률에 대한 신뢰 상한도 추정됩니다.
하지만 향후 테스트는 어떻습니까? 다음 검증에서 유사한 부분을 테스트해야 할 수도 있습니다. 실패 모드가 두 개 이상인 경우 수명 테스트를 어떻게 설계해야 합니까? 이번에도 해결책이 있습니다! 두 개의 독립적인 로그 정규 고장 메커니즘을 사용하여 수명 테스트를 계획하는 그래픽 방법을 보여줍니다. 시뮬레이션된 바이모달 데이터의 신뢰성 추정치는 윤곽 프로파일러에 표시되어 이러한 어려움을 헤쳐나가는 데 도움이 됩니다. 이 간단한 그래픽 접근 방식을 통해 실무자는 원하는 신뢰성 목표를 충족할 가능성이 가장 높은 테스트 조건을 선택할 수 있습니다.
고급 통계 모델링신뢰성 분석
