La vita ti ha abbattuto? Hai due modalità di guasto e non sei sicuro di come effettuare previsioni sull'affidabilità? C'è una strada verso il successo! Utilizzando un metodo semplice, in JMP viene modellato un set di dati Arrhenius relativo alla durata dei transistor con due meccanismi di guasto lognormali indipendenti. Viene stimato anche il limite superiore di confidenza sulla probabilità di guasto alle condizioni d'uso.
Ma per quanto riguarda i test futuri? Potrebbe essere necessario testare parti simili nella prossima qualifica. Come dovresti progettare i tuoi test di vita quando esiste più di una modalità di fallimento? Ancora una volta, c'è una soluzione! Viene dimostrato un metodo grafico per pianificare test di vita con due meccanismi di guasto lognormali indipendenti. Le stime di affidabilità dei dati bimodali simulati vengono mostrate con il contour profiler, aiutandoti a superare questa difficoltà. Questo semplice approccio grafico consente al professionista di scegliere le condizioni di test che hanno le migliori possibilità di raggiungere l'obiettivo di affidabilità desiderato.
