Das Leben macht Ihnen zu schaffen? Sie haben zwei Ausfallarten und sind sich nicht sicher, wie Sie Zuverlässigkeitsvorhersagen treffen sollen? Es gibt einen Weg zum Erfolg! Mithilfe einer unkomplizierten Methode wird ein Arrhenius-Datensatz von Transistorlebensdauern mit zwei unabhängigen, lognormalen Ausfallmechanismen in JMP modelliert. Die obere Konfidenzgrenze der Ausfallwahrscheinlichkeit unter Einsatzbedingungen wird ebenfalls geschätzt.
Aber was ist mit zukünftigen Tests? Möglicherweise müssen Sie bei der nächsten Qualifikation ähnliche Teile testen. Wie sollten Sie Ihre Lebensdauertests gestalten, wenn es mehr als einen Ausfallmodus gibt? Auch hier gibt es eine Lösung! Es wird eine grafische Methode zur Planung von Lebensdauertests mit zwei unabhängigen, lognormalen Ausfallmechanismen demonstriert. Zuverlässigkeitsschätzungen aus simulierten bimodalen Daten werden mit dem Konturprofiler angezeigt und helfen Ihnen, diese Schwierigkeit zu bewältigen. Dieser einfache grafische Ansatz ermöglicht es dem Anwender, Testbedingungen auszuwählen, die die beste Chance haben, das gewünschte Zuverlässigkeitsziel zu erreichen.
