La vie t'a déprimé ? Vous disposez de deux modes de défaillance et vous ne savez pas comment faire des prévisions de fiabilité ? Il existe un chemin vers le succès ! À l'aide d'une méthode simple, un ensemble de données Arrhenius sur la durée de vie des transistors avec deux mécanismes de défaillance lognormaux indépendants est modélisé dans JMP. La limite supérieure de confiance de la probabilité de défaillance dans les conditions d'utilisation est également estimée.
Mais qu’en est-il des futurs tests ? Vous devrez peut-être tester des pièces similaires lors de la prochaine qualification. Comment devez-vous concevoir vos tests de durée de vie lorsqu’il existe plusieurs modes de défaillance ? Encore une fois, il existe une solution ! Une méthode graphique pour planifier des tests de durée de vie avec deux mécanismes de défaillance lognormaux indépendants est démontrée. Les estimations de fiabilité à partir de données bimodales simulées sont affichées avec le profileur de contours, vous aidant à surmonter cette difficulté. Cette approche graphique simple permet au praticien de choisir les conditions de test qui ont les meilleures chances d'atteindre l'objectif de fiabilité souhaité.
