JMP 소프트웨어를 사용하여 적층된 유리 기판 사이의 에어 갭 측정에 대한 상세한 시각화를 만들었습니다. 이 시각화는 기판과 접촉하지 않고 간격을 정확하게 측정하는 저간섭 간섭계를 사용한 세심한 측정 프로세스를 통해 생성되었습니다. 이러한 측정값을 XY 플롯(분위수 그룹화 포함)에 표시함으로써 JMP는 기판 표면 전체에 걸쳐 공극 변화를 명확하게 공간적으로 표현합니다.
JMP에서 생성된 표면 플롯은 기판 표면의 지형학적 보기를 보여줌으로써 이해를 더욱 향상시킵니다. 이러한 시각화는 스택 중앙의 상당한 휘어짐, 즉 접착 시 응력을 유발하고 생산 라인을 따라 후속 박리를 초래하는 결함을 강조하므로 매우 중요합니다.
JMP의 분석 도구를 활용하여 근본 원인 분석을 수행했습니다. 소프트웨어의 시각적 출력을 통해 중앙 활을 정확히 찾아내 즉각적인 수정 조치가 가능해졌습니다. 이 프로세스는 복잡한 데이터를 실행 가능한 통찰력으로 변환하고 적층된 유리 기판의 제조 무결성을 보장하는 JMP의 강력한 기능을 보여줍니다. 또한 이 프레젠테이션에서는 JMP의 새로운 작업 흐름 추가 기능을 사용하여 스크립트에 익숙하지 않은 사용자가 스크립트 지식과 상관없이 데이터를 표시할 수 있는 방법을 보여줍니다.
