偏差可能會導致製造工廠產生巨大的成本。在半導體產業，生產停工、晶圓報廢和低成品率以及產量下降可能會導致巨大的收入損失。負責調查這些偏差的工程師必須快速發現可操作的見解，以做出數據驅動的決策，從而最大限度地減少停機時間並提高產品品質。
JMP 的分析工作流程可以幫助您概述有效調查偏差所需的步驟和工具。探索查詢產生器如何促進從資料庫存取資料以及 JMP 強大的表格選單如何幫助資料操作。發現用於視覺化和分析晶圓圖資料的最佳表格格式。利用探索和分析技術來發現製造流程步驟之間隱藏的關係。使用 JMP Pro 增強您的分析，利用 JMP Pro 18 的新 Torch 深度學習外掛程式中的影像分析等功能來獲得進階見解。
使用 JMP 中的 Workflow Builder 自動執行並重新執行整個分析，無需編碼即可確保速度、可重複性、靈活性和分析能力。了解如何利用 JMP 和 JMP Pro 中的這些工具和技術在快節奏的製造環境中實現高效解決並大幅節省成本。
