异常情况会给制造工厂带来巨大成本。在半导体行业，生产停工、晶圆报废和产量低下以及产量下降都可能导致巨额收入损失。负责调查这些异常情况的工程师必须快速发现可行的见解，以便做出数据驱动的决策，从而最大限度地减少停机时间并提高产品质量。
JMP 的分析工作流程可以帮助您概述有效调查偏移所需的步骤和工具。探索查询生成器如何促进从数据库访问数据，以及 JMP 强大的表格菜单如何帮助数据操作。发现用于可视化和分析晶圆图数据的最佳表格格式。利用探索性和分析性技术来发现制造工艺步骤之间的隐藏关系。使用 JMP Pro 增强您的分析能力，利用 JMP Pro 18 的新 Torch Deep Learning 插件中的图像分析等功能来获得高级见解。
使用 JMP 中的 Workflow Builder 自动执行并重新运行整个分析，确保速度、可重复性、灵活性和分析能力，而无需编码。了解如何利用 JMP 和 JMP Pro 中的这些工具和技术在快节奏的制造环境中实现高效解决方案并大幅节省成本。
