Abweichungen können in einer Produktionsstätte zu erheblichen Kosten führen. In der Halbleiterindustrie können Produktionsausfälle, Ausschuss und Wafer mit geringer Ausbeute sowie verringerte Produktion zu erheblichen Umsatzeinbußen führen. Ingenieure, die mit der Untersuchung dieser Abweichungen beauftragt sind, müssen schnell umsetzbare Erkenntnisse für datengesteuerte Entscheidungen gewinnen, die Ausfallzeiten minimieren und die Produktqualität verbessern.
Der analytische Workflow von JMP kann Ihnen dabei helfen, die Schritte und Tools zu skizzieren, die Sie zur effizienten Untersuchung von Abweichungen benötigen. Entdecken Sie, wie Query Builder den Datenzugriff aus Datenbanken erleichtert und wie das leistungsstarke Tabellenmenü von JMP bei der Datenbearbeitung hilft. Entdecken Sie optimale Tabellenformate zum Visualisieren und Analysieren von Wafermap-Daten. Nutzen Sie explorative und analytische Techniken, um verborgene Beziehungen zwischen den Schritten des Fertigungsprozesses zu entdecken. Verbessern Sie Ihre Analyse mit JMP Pro und nutzen Sie Funktionen wie die Bildanalyse im neuen Torch Deep Learning-Add-In für JMP Pro 18, um erweiterte Erkenntnisse zu gewinnen.
Automatisieren Sie Ihre gesamte Analyse und führen Sie sie erneut aus, indem Sie den Workflow Builder in JMP verwenden. So stellen Sie Geschwindigkeit, Wiederholbarkeit, Flexibilität und Analyseleistung sicher, ohne dass Sie programmieren müssen. Erfahren Sie, wie die Nutzung dieser Tools und Techniken in JMP und JMP Pro zu einer effizienten Lösung und erheblichen Kosteneinsparungen in einer schnelllebigen Fertigungsumgebung führen kann.
