Les excursions peuvent entraîner des coûts importants dans une usine de fabrication. Dans l’industrie des semi-conducteurs, les arrêts de production, les plaquettes mises au rebut et à faible rendement, ainsi que la diminution de la production peuvent entraîner des pertes de revenus substantielles. Les ingénieurs chargés d'enquêter sur ces excursions doivent rapidement découvrir des informations exploitables pour prendre des décisions basées sur les données qui minimisent les temps d'arrêt et améliorent la qualité des produits.
Le workflow analytique de JMP peut vous aider à décrire les étapes et les outils nécessaires pour enquêter efficacement sur les excursions. Découvrez comment Query Builder facilite l'accès aux données à partir des bases de données et comment le puissant menu Tables de JMP facilite la manipulation des données. Découvrez les formats de tableaux optimaux pour visualiser et analyser les données cartographiques des plaquettes. Utilisez des techniques exploratoires et analytiques pour découvrir les relations cachées entre les étapes du processus de fabrication. Améliorez votre analyse avec JMP Pro, en tirant parti de fonctionnalités telles que l'analyse d'images dans le nouveau complément Torch Deep Learning pour JMP Pro 18 pour obtenir des informations avancées.
Automatisez et réexécutez l'intégralité de votre analyse à l'aide de Workflow Builder dans JMP, garantissant ainsi vitesse, répétabilité, flexibilité et puissance analytique sans avoir besoin de codage. Découvrez comment l'exploitation de ces outils et techniques dans JMP et JMP Pro peut conduire à une résolution efficace et à des économies substantielles dans un environnement de fabrication en évolution rapide.
