La valutazione dell'affidabilità dei dispositivi e delle interconnessioni nelle tecnologie dei semiconduttori viene generalmente eseguita per la certificazione tecnologica e il monitoraggio periodico, utilizzando dimensioni del campione relativamente piccole (da una cifra a decine) per condizione. I dati di produzione in volume possono essere utilizzati nel tempo per valutare l'affidabilità dielettrica mediante misurazioni di rottura della tensione a rampa su strutture di prova scribe-lane. Nel tempo, ciò può fornire una visione dettagliata del comportamento dielettrico, inclusa una combinazione di meccanismi intrinseci ed estrinseci che influenzano l'integrità dielettrica. In particolare, è possibile rilevare e affrontare valori anomali o code con basso tasso di fallimento, che altrimenti potrebbero comportare rischi per la qualità del campo.
Per ragioni pratiche, la rampa può essere arrestata a una tensione target per ridurre il tempo di test ed evitare danni alle schede e agli aghi della sonda, che potrebbero comportare la censura di un numero limitato di punti dati. L'adattamento di grandi set di dati con un numero limitato di punti dati censurati può portare a problemi di convergenza, con conseguenti parametri di adattamento errati e mancanza di intervalli di confidenza, oltre a porre sfide computazionali significative.
Questo lavoro esplora queste sfide con la piattaforma JMP Life Distribution ed esamina alternative e soluzioni per consentire un'analisi, un adattamento e un'estrapolazione corretti.
