このウィッシュリストのリクエストのきっかけは何ですか?改善が必要な現在の問題、または現時点では容易ではない、または不可能である解決すべき問題を、使用例とともに説明してください。
半導体業界では仮想計測が必要ですが、仮想計測の重要性を理解している研究者や管理者は少ないです。そのため、JMP に仮想計測を実行するスクリプトを要求したいと思います。
どのような改善を望みますか?JMP を改善するためのアイデアを説明してください。希望する変更を説明するのに役立つ、モックアップ、ワイヤーフレーム、スクリーンショット、スクリプト、その他のドキュメント、または他のソフトウェアからの例を含めてください。
歩留まり解析エンジニアとプロセス エンジニアは、JUMP を使用して歩留まりを向上させ、JUMP に基づいてプロセス ツールの制御性を向上させます。
このアイデアはなぜ重要ですか?アイデアが実装された場合、あなたや他のユーザーにとっての価値を説明してください (たとえば、使いやすさ、必須など)。歩留まりを向上させることで製品のコストを下げることで、半導体業界に大きな影響を与えます。
NKodama さん、投稿ありがとうございます。仮想計測には、ツール設定とセンサー データからウェハー特性を予測するモデルの構築が含まれます。JMP では、仮想計測のユースケースで使用できるさまざまなタイプの予測モデルをすでに構築できます。念頭に置いている特定のタイプのモデルはありますか。または、半導体固有の言語/参照を使用するプラットフォームにそれらのモデルを組み込むことを希望していますか。
