- In der Halbleiterindustrie (einschließlich Materialien und Fertigungsanlagen) verfügt JMP über Funktionen, die in jeder Phase der Forschung und Entwicklung, des Qualitäts- und Zuverlässigkeitsmanagements, der Fertigung und der Inspektion eingesetzt werden können.
- In diesem Video geben wir einen Überblick über JMP, stellen Beispiele für seinen Einsatz in der Halbleiterindustrie vor und stellen die Funktionen und Anwendungsbeispiele von JMP in der Datenanalyse und statistischen Analyse vor. Abschließend stellen wir auch Ressourcen zur Nutzung von JMP vor.
- In diesem Buch werden Fallstudien vorgestellt und Datenbeispiele für die Halbleiterindustrie bereitgestellt. Der Inhalt ist jedoch auch für diejenigen nützlich, die in der Fertigungsindustrie (Elektronikteile, Automobile, andere Materialien als Halbleiter usw.) in den Bereichen Forschung, Qualitätskontrolle und Fertigung tätig sind. Masu.
*Dieses Video und diese Materialien verwenden die neueste Version „JMP (JMP Pro) 18.0.1“ zum Zeitpunkt der Produktion (Juni 2024).
*Sie können die im Seminar verwendeten Materialien (PDF) auf dieser Seite herunterladen.
Inhaltsverzeichnis
Einführung: Überblick über JMP und seine Verwendung in der Halbleiterindustrie
Wir werden die Funktionen von JMP und seine Verwendung in der Halbleiterindustrie anhand von Anwendungsbeispielen und Kundenfeedback vorstellen.
Wir werden auch die leistungsstarken Funktionen von JMP anhand von Prozessdaten aus CVD (Abscheidungsmethode) in der Halbleiterfertigung demonstrieren. (18 Minuten 28 Sekunden)
Thema 1: Prozessfähigkeitsanalyse zur Bewertung und Untersuchung mehrerer Prozesse
In JMP können Sie Spezifikationsgrenzen für Prozessvariablen festlegen und Prozessfähigkeitsanalysen durchführen. Wir werden jedoch die Funktion „Prozessscreening“ einführen, mit der Sie mehrere Prozesse gleichzeitig untersuchen und vergleichen können. (9 Minuten 59 Sekunden)
Thema 2: Erstellung einer Waferkarte und Klassifizierung von Wafer-Nichtkonformitäten durch Clustering
Verwenden Sie „Graph Builder“, um eine Wafer-Karte zu erstellen und die Anzahl der Nichtkonformitäten zu visualisieren. Darüber hinaus wird eine Clusteranalyse eingesetzt, um die Wafer anhand der Nichtkonformitätsmuster in mehrere Gruppen einzuteilen. (10 Minuten 3 Sekunden)
Thema 3: Zuverlässigkeitsanalyse ~Vorhersage der Produktlebensdauer~
JMP umfasst viele Funktionen zur Analyse der Produktzuverlässigkeit. Hier verwenden wir die häufig verwendete „Lebensdauer-Univariate“-Funktion, um verschiedene Verteilungen an Lebensdauerdaten anzupassen, das beste Modell auszuwählen und die Ausfallwahrscheinlichkeit mithilfe des besten Modells vorherzusagen. (7 Minuten 38 Sekunden)
Thema 4: Überblick über die Versuchsplanung (DOE) und Beispiele für deren Einsatz in Halbleiterherstellungsprozessen
Wir geben einen Überblick über die Versuchsplanung und geben ein Beispiel dafür, wie sie zur Identifizierung von Faktoren verwendet werden kann, die die Entfernung von Fotolack und Schwankungen bei der Entfernung während eines Plasmaveraschungsprozesses beeinflussen. (16 Minuten 2 Sekunden)
Thema 5: Erstellen statistischer Modelle und Erkunden von Faktoren, die sich auf charakteristische Werte auswirken
Hier ist ein Beispiel für die Verwendung von JMP oder JMP Pro zur Erstellung eines statistischen Modells, zur Verwendung eines Vorhersageprofils zur Erstellung von Vorhersagen und zur Suche nach Faktoren. (11 Minuten 42 Sekunden)
Thema 6: Analyseaufgaben mit Workflows automatisieren
Wir zeigen Ihnen, wie Sie mit dem Workflow Builder von JMP JMP-Vorgänge aufzeichnen und ein Skript generieren, das die Vorgänge reproduziert. (10 Minuten 9 Sekunden)
Referenzinformationen und Ressourcen
JMP-Testversion
Sie können alle JMP-Funktionen 30 Tage lang testen.
JMP-Handbuch
Sie können das JMP-Handbuch (PDF) herunterladen.
Benutzergeschichten
Enthält Beispiele für die Verwendung von JMP in verschiedenen Branchen und Anwendungen, einschließlich der Halbleiterindustrie.
Statistisches Denken zur Problemlösung in der Fertigung (STIPS)
Kostenloser Online-Statistikkurs. Sie können mehr über Problemlösungskonzepte in der Fertigungsindustrie, verwandte statistische Methoden und die Verwendung von JMP erfahren.
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