JMP アドイン機能を利用した半導体 Data analysis and visualization (2021-JP-30MP-1021)半導体装置には数多くのパラメータが存在し、数秒で無数のデータが生成されています。このような膨大なデータを分析するには、複雑な前処理プロセスと統計的なアプローチ、これを可視化できる分析ツールが必要です。
JSLを活用して自動的にすべてのDataを一括統計的に分析し、One Page Summary Reportで分析結果を表示できます。 JMPアドインを開発し、エンジニアが複雑な分析を簡単に誰でもできるようにしたケースを紹介します。
高度な統計モデリング自動化とスクリプト基本的なデータ分析とモデリング消費者および市場調査コンテンツの編成データの探索と視覚化大量カスタマイズ予測モデリングと機械学習品質およびプロセスエンジニアリング結果の共有と伝達
