Esistono numerosi parametri nelle apparecchiature a semiconduttore e ogni secondo vengono generate innumerevoli quantità di dati. Per analizzare una quantità così grande di dati sono necessari complessi processi di preelaborazione, approcci statistici e strumenti di analisi in grado di visualizzarli.
Utilizzando JSL, puoi analizzare statisticamente automaticamente tutti i dati in batch e mostrare i risultati dell'analisi tramite un rapporto di riepilogo di una pagina. Presentiamo un esempio di come gli ingegneri hanno sviluppato un componente aggiuntivo JMP per consentire a chiunque di eseguire facilmente analisi complesse.
