Rilevamento e diagnosi dei guasti dei processi di produzione utilizzando le carte di controllo multivariato basate su modello JMP (MDMVCC)In quest’era di big data e produzione complessa, spesso è necessario monitorare e analizzare grandi quantità di dati generati durante i processi di produzione per mantenere o migliorare la qualità del prodotto. JMP fornisce una varietà di strumenti per aiutare ingegneri e analisti a monitorare in modo rapido ed efficace processi su larga scala. La carta di controllo multivariata basata su modello (MDMVCC) è una di queste. Utilizzato insieme alle piattaforme PCA e PLS, MDMVCC consente agli utenti di monitorare un gran numero di processi altamente correlati per monitorare i cambiamenti di processo multivariabili nel tempo, fornire avvisi anticipati sui cambiamenti di processo e fornire consigli sulle possibili cause dei cambiamenti di processo. Dimostreremo attraverso casi di studio come MDMVCC può essere utilizzato per monitorare e diagnosticare molti processi per ottenere miglioramenti rapidi ed efficienti.
Modellazione predittiva e machine learning
