為了製造單一半導體，需要許多單元製程。只有各個工序順利進行，才能獲得優質的半導體，而這是透過工序之間的測量來管理的。然而，一致的分析是困難的，因為它以各種設備和FAB的形式存在。在這裡，我們介紹一個任何人都可以使用 JSL 輕鬆、快速、一致地進行分析的案例。它利用有限的數據預測 WAFER 內 RESPONSE 的分佈並提供統計資訊。此外，它還直觀地顯示互動式分析結果。
