Predicción y análisis de RESPUESTA mediante WAFER utilizando JSL (2021-KR-30MP-1023)Para fabricar un solo semiconductor se requieren numerosos procesos unitarios.
Sólo se pueden obtener semiconductores de calidad cuando cada proceso se desarrolla bien, y esto se gestiona mediante mediciones entre procesos. Sin embargo, un análisis consistente es difícil porque existe en diversas formas por equipo y FAB.
Aquí presentamos un caso en el que cualquiera puede analizar de manera fácil, rápida y consistente utilizando JSL.
Predice la distribución de RESPUESTA dentro de WAFER con datos limitados y proporciona información estadística.
Además, muestra visualmente los resultados del análisis interactivo.
