为了制造单个半导体，需要许多单元工艺。只有每个工序顺利进行，才能获得优质的半导体，而这是通过工序之间的测量来管理的。然而，一致的分析是困难的，因为它以各种设备和FAB的形式存在。在这里，我们介绍一个任何人都可以使用 JSL 轻松、快速、一致地进行分析的案例。它利用有限的数据预测 WAFER 内 RESPONSE 的分布并提供统计信息。此外，它还直观地显示交互式分析结果。
