Pour fabriquer un seul semi-conducteur, de nombreux processus unitaires sont nécessaires.
Des semi-conducteurs de qualité ne peuvent être obtenus que lorsque chaque processus se déroule correctement, et cela est géré par des mesures entre les processus. Cependant, une analyse cohérente est difficile car elle existe sous diverses formes par équipement et FAB.
Ici, nous présentons un cas où n'importe qui peut analyser facilement, rapidement et de manière cohérente à l'aide de JSL.
Il prédit la distribution de RESPONSE au sein de WAFER avec des données limitées et fournit des informations statistiques.
De plus, il affiche visuellement les résultats de l’analyse interactive.
