Laura Lancaster, desarrolladora principal de investigación estadística de JMP, SAS
Jianfeng Ding, desarrollador senior de estadística de investigación, JMP
En esta era de big data y fabricación compleja, a menudo hay una enorme cantidad de datos de procesos que deben monitorearse y analizarse para mantener o mejorar la calidad. JMP tiene varias herramientas para ayudar al analista a aumentar de manera rápida y eficiente la escala de monitoreo de sus procesos. La plataforma Process Screening permite a los usuarios escanear fácilmente los procesos en busca de estabilidad y capacidad y les permite centrar la atención en los procesos que necesitan mejoras. Inicialmente, la plataforma calcula un informe resumido basado en gráficos de control, cálculos de capacidad y estabilidad, y crea varios gráficos para una evaluación visual rápida del estado del proceso. Con base en estos resultados iniciales, es fácil seleccionar los procesos que necesitan atención y explorarlos más en profundidad con acceso a Control Chart Builder y Process Capability. La plataforma Model Driven Multivariate Control Chart (MDMCC), nueva en JMP 15, permite a los usuarios monitorear grandes cantidades de procesos altamente correlacionados. Esta plataforma se puede utilizar junto con las plataformas PCA y PLS para monitorear la variación del proceso multivariante a lo largo del tiempo, brindar advertencias avanzadas sobre cambios en el proceso y sugerir causas probables de los cambios en el proceso. Utilizaremos estudios de casos para demostrar cómo utilizar JMP para monitorear y analizar muchos procesos para lograr una mejora rápida y eficiente.
