Laura Lancaster, développeur statisticien de recherche principal JMP, SAS
Jianfeng Ding, développeur statisticien de recherche principal, JMP
À l’ère du Big Data et de la fabrication complexe, il existe souvent une énorme quantité de données de processus qui doivent être surveillées et analysées pour maintenir ou améliorer la qualité. JMP dispose de plusieurs outils pour aider l'analyste à augmenter rapidement et efficacement l'échelle de surveillance de ses processus. La plate-forme Process Screening permet aux utilisateurs d'analyser facilement la stabilité et la capacité des processus et leur permet de concentrer leur attention sur les processus nécessitant une amélioration. La plateforme calcule initialement un rapport récapitulatif basé sur une carte de contrôle, des calculs de capacité et de stabilité, et crée plusieurs graphiques pour une évaluation visuelle rapide de l'état du processus. Sur la base de ces premiers résultats, il est facile de sélectionner les processus nécessitant une attention particulière et de les explorer plus en profondeur grâce à l'accès à Control Chart Builder et Process Capability. La plate-forme MDMCC (Model Driven Multivariate Control Chart), nouvelle dans JMP 15, permet aux utilisateurs de surveiller de grandes quantités de processus hautement corrélés. Cette plateforme peut être utilisée conjointement avec les plateformes PCA et PLS pour surveiller les variations de processus multivariées au fil du temps, donner des avertissements avancés en cas de changements de processus et suggérer les causes probables des changements de processus. Nous utiliserons des études de cas pour démontrer comment utiliser JMP pour surveiller et analyser de nombreux processus en vue d'une amélioration rapide et efficace.
