Niveau: Mittel
Berufsfunktion: Analyst / Wissenschaftler / Ingenieur
Laura Lancaster, JMP Principal Research Statistician Developer, SAS
Im Zeitalter von Big Data und komplexer Fertigung gibt es oft enorme Mengen an Prozessdaten, die regelmäßig überwacht und analysiert werden müssen, um die Qualität aufrechtzuerhalten oder zu verbessern. Für Analysten kann es schwierig sein, mit den Anforderungen der Überwachung so vieler Daten bei begrenzter Zeit und begrenzten Ressourcen Schritt zu halten. JMP bietet mehrere Tools, mit denen Analysten den Umfang ihrer Prozessüberwachung schnell und effizient erhöhen können. Mit der Prozess-Screening-Plattform in JMP können Benutzer problemlos eine große Anzahl von Prozessen auf Stabilität und Leistungsfähigkeit prüfen und ihre Aufmerksamkeit schnell auf Prozesse richten, die verbessert werden müssen. Dies spart Zeit, reduziert den Arbeitsaufwand und verbessert die Qualität. Die Plattform berechnet zunächst einen zusammenfassenden Bericht auf der Grundlage von Kontrolldiagramm-, Leistungsfähigkeits- und Stabilitätsberechnungen und erstellt mehrere Diagramme zur schnellen visuellen Beurteilung des Zustands vieler Prozesse. Basierend auf diesen ersten Ergebnissen ist es einfach, die Prozesse auszuwählen, die Aufmerksamkeit erfordern, und sie mit einfachem Zugriff auf den Kontrolldiagramm-Generator und die Prozessfähigkeitsplattformen eingehender zu untersuchen. Mit der Reaktions-Screening-Plattform in JMP können Benutzer viele Prozessmessungen auf die Auswirkungen einer Prozessänderung testen und Anpassungen vornehmen, um falsche Deklarationen der Signifikanz zu vermeiden. Die Plattform erstellt zunächst Ergebnisse und zusammenfassende Statistiken in Datentabellen sowie mehrere leicht interpretierbare Diagramme in einem Bericht, um eine weitere Untersuchung wichtiger Ergebnisse zu ermöglichen. In diesem Vortrag wird anhand von Fallstudien gezeigt, wie Sie mit JMP viele Prozesse überwachen und analysieren können, um schnelle und effiziente Verbesserungen zu erzielen.
