是什麼激發了這個願望清單請求？
目標是定義 FDE 平台中峰值查找的某些搜尋區域。
如果您想尋找哪些批次含有某些特定物質，您必須搜尋光譜中不同特定位置的峰值。
因此，要求能夠定義多個 X 範圍以進行峰值查找。
請描述您希望看到的新的或改進的功能或解決方案。
第一個想法是過濾 X 軸。但在FDE平台上，這是不可能的。唯一的可能性是保持 X 的範圍。
因此，用戶必須事先過濾數據，這增加了複雜的步驟。
另一個想法是在自動峰值檢測演算法中提供一些選項，以指定多個位置。
如果提供此新功能，對您和/或其他使用者有何價值？
更輕鬆、更省時。
能夠專注於分析而不是數據準備。
這是外部客戶的請求嗎？
位於格勒諾布爾的意法半導體封裝組裝團隊。
是否有具有我們應該注意的此功能或解決方案的競爭軟體包？
不知道
這是否會影響客戶的續約、擴展或採用？
它將有助於 ST Micro 採用 JMP Pro
