¿Qué inspiró esta solicitud de lista de deseos?
El objetivo es definir alguna zona de búsqueda de picos en la plataforma FDE.
Si desea encontrar qué lotes tienen algún material específico, debe buscar picos en diferentes ubicaciones específicas de su espectro.
Entonces, la solicitud es poder definir varios rangos X para encontrar picos.
Describa la característica o solución nueva o mejorada que le gustaría ver.
La primera idea sería filtrar el eje X. Pero en la plataforma FDE no será posible. la única posibilidad es mantener un rango de X.
Entonces el usuario tiene que filtrar previamente los datos y agrega pasos complejos.
Otra idea sería tener alguna opción en el algoritmo de detección automática de picos, para especificar varias ubicaciones.
¿Cuál sería el valor para usted y/o para otros usuarios si se proporciona esta nueva característica?
Más fácil y ahorra tiempo.
Ser capaz de centrarse en el análisis y no en la preparación de datos.
¿Es esta una solicitud de un cliente externo?
ST Microelectronics en Grenoble, equipo de montaje de paquetes.
¿Existe algún paquete de software competitivo que tenga esta característica o solución que debamos conocer?
Ni idea
¿Esto afectará la renovación, expansión o adopción de un cliente? ¿Esto pone en riesgo una cuenta si no abordamos este problema?
ayudará a la adopción de JMP Pro por parte de ST Micro
