是什么启发了这个愿望清单请求？
目标是定义在 FDE 平台中寻找峰值的一些搜索区域。
如果您想要找到哪些批次含有某种特定材料，您必须在光谱的不同特定位置搜索峰值。
因此请求是能够定义几个 X 范围以查找峰值。
请描述您希望看到的新的或改进的功能或解决方案。
第一个想法是过滤 X 轴。但在 FDE 平台中，这是不可能的。唯一的可能性是保留 X 的范围。
因此用户必须事先过滤数据，这增加了复杂的步骤。
另一个想法是在自动峰值检测算法中提供一些选项来指定几个位置。
如果提供此新功能，对您和/或其他用户有何价值？
更简单，更省时。
能够专注于分析而不是数据准备。
这是外部客户请求吗？
格勒诺布尔的 ST Microelectronics 封装组装团队。
是否存在具有此功能或解决方案且值得我们了解的竞争性软件包？
不知道
这是否会影响客户的续约、扩展或采用？如果我们不解决这个问题，是否会使账户面临风险？
这将有助于 ST Micro 采用 JMP Pro
