이 위시리스트 요청에 영감을 준 것은 무엇입니까?
목표는 FDE 플랫폼에서 찾는 피크에 대한 일부 검색 영역을 정의하는 것입니다.
특정 재료가 포함된 배치를 찾으려면 스펙트럼의 다른 특정 위치에서 피크를 검색해야 합니다.
따라서 요청은 피크 찾기를 위해 여러 X 범위를 정의할 수 있도록 하는 것입니다.
보고 싶은 새로운 기능이나 개선된 기능이나 솔루션을 설명해 주세요.
첫 번째 아이디어는 X축을 필터링하는 것입니다. 하지만 FDE 플랫폼에서는 이것이 불가능합니다. 유일한 가능성은 X의 범위를 유지하는 것입니다.
따라서 사용자는 이전에 데이터를 필터링해야 하며 이는 복잡한 단계를 추가합니다.
또 다른 아이디어는 자동 피크 감지 알고리즘에 몇 가지 옵션을 추가하여 여러 위치를 지정하는 것입니다.
이 새로운 기능이 제공된다면 귀하 및/또는 다른 사용자에게 어떤 가치가 있을까요?
더 쉽고 시간도 절약됩니다.
데이터 준비가 아닌 분석에 집중할 수 있습니다.
외부 고객 요청인가요?
그르노블의 ST Microelectronics 패키지 조립 팀.
우리가 알아야 할 이 기능이나 솔루션을 갖춘 경쟁 소프트웨어 패키지가 있습니까?
몰라
이것이 고객의 갱신, 확장 또는 채택에 영향을 미치나요? 이 문제를 해결하지 않으면 계정이 위험에 처하게 됩니까?
ST Micro가 JMP Pro를 채택하는 데 도움이 될 것입니다.
